HIOKI日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量,1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查,IM3570分析儀在LCR模式下較快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量,主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭。
查看詳細介紹HIOKI日置IM3590化學阻抗分析儀用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容),IM3590化學阻抗分析儀適用于離子運動和溶液電阻測量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號源,適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量,較快2ms的高速測量,實現掃描測量的高速化
查看詳細介紹HIOKI日置阻抗分析儀IM7580A測試速度較快0.5ms,高速、高穩定測量,節省空間的半個機架大小,測量頻率1MHz~300MHz,基本精度±0.72%rdg.使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量,主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀IM7580A的測試治具。
查看詳細介紹HIOKI日置IM7581阻抗分析儀主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。較快測試速度0.5ms,測量范圍覆蓋100kHz~300MHz的低頻, 緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小,IM7581阻抗分析儀使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量
查看詳細介紹HIOKI日置阻抗分析儀IM7583具有豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定),IM7583阻抗分析儀能高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms,測量頻率:1MHz~600MHz,主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀的測試治具。
查看詳細介紹HIOKI日置阻抗分析儀IM7585測量頻率:1MHz~1.3GHz可以高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms,測量值偏差0.07%,緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小,使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量,主機不帶測試治具。需要選配使用阻抗分析儀的測試治具。
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